殘余應(yīng)力的檢測方法主要有兩種：無損的物理檢測方法和有損的應(yīng)力釋放法。其中，X射線殘余應(yīng)力檢測方法是常用的無損法，盲孔法應(yīng)力檢測是有損法。

相對(duì)來說X射線法檢測殘余應(yīng)力較為準(zhǔn)確，是無損法宏觀殘余應(yīng)力檢測常用的檢測方法。它是一種間接檢測應(yīng)力的方式，通過檢測衍射角2θ相對(duì)于晶面方位角ψ角變化率來檢測表層微小區(qū)域的應(yīng)力。

由此可以看出，X射線方法檢測的是工件彈性應(yīng)力應(yīng)變，并不是塑性應(yīng)力應(yīng)變，塑性變形不會(huì)改變晶格間距，不會(huì)發(fā)生衍射角度的變化。

在理想多晶體中，同族晶面的面間距d是相等的，無論X射線從什么角度入射，無論晶面方位角ψ角為何值，衍射角2θ都是不變的。在拉應(yīng)力狀態(tài)，晶面方位角ψ越大，晶面間距也越大，相應(yīng)的衍射角2θ越?。煌?，在壓應(yīng)力狀態(tài)，晶面方位角ψ越大，晶面間距變小，衍射角2θ則越大；衍射角2θ隨方位角變化的快慢程度，直接反應(yīng)出應(yīng)力值的大小。

應(yīng)力測定的衍射幾何方式有兩種：

同傾法是在衍射儀上進(jìn)行常規(guī)對(duì)稱衍射，入射線與計(jì)數(shù)管軸線對(duì)稱分布在試樣表面法線兩側(cè)，此時(shí)晶面方位角ψ角為零；從晶面方位角ψ角=0的位置，另試樣軸轉(zhuǎn)過一個(gè)角度，對(duì)選定的衍射峰進(jìn)行定峰和掃描，一般晶面方位角ψ角取值3-4個(gè)。

意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個(gè)多世紀(jì)的技術(shù)開發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿足多個(gè)行業(yè)的分析需求。

STRESS-X殘余應(yīng)力分析儀能夠?qū)θ魏纬叽绾托螤畹臉悠愤M(jìn)行無損分析殘余應(yīng)力檢測，這要?dú)w功于其衍射單元安裝在6軸機(jī)械臂上。STRESS-X單元包括通過X射線衍射進(jìn)行殘余應(yīng)力或殘余奧氏體測量所需的所有條件。

在標(biāo)準(zhǔn)版本中，機(jī)械臂和相關(guān)附件安裝在堅(jiān)固的鋼制手推車上，該手推車裝有所有控制電子設(shè)備，用于管冷卻的水冷卻器和個(gè)人計(jì)算機(jī)等。STRESS-X可以在距機(jī)械臂中心895 mm的距離下測量位于平臺(tái)上的樣品或?qū)C(jī)械臂移出平臺(tái)來檢測大型樣品。

STRESS-X殘余應(yīng)力分析儀的設(shè)計(jì)旨在為實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場使用的制造過程中的質(zhì)量保證和質(zhì)量控制實(shí)踐提供快速、可靠的解決方案。 它易于使用，同時(shí)又能夠滿足大多數(shù)客戶的苛刻要求。